1. X射线荧光光谱仪（XRF）：用于快速、非破坏性地分析物质中的元素成分。该仪器通过测量样品在受到X射线激发后放出的特定能量的荧光辐射来确定样品中元素的种类和含量。
2. 等离子体发射光谱仪（ICP-OES）：利用等离子体发射激发样品中的元素原子并测量其发射光谱，确定元素的种类和含量。该仪器适用于同时分析多个元素。
3. 等离子体质谱仪（ICP-MS）：结合了等离子体发射光谱仪和质谱仪的优势，能够高灵敏度地检测元素的种类和含量。适用于分析微量元素和稀土元素。
4. 吸收光谱仪（AAS）：利用样品吸收特定波长的光线，测量样品中元素的吸收强度来确定元素的含量。适用于分析单一元素。
5. 原子力显微镜（AFM）：用于表面形貌和纳米级力学性质的观察和测试。该仪器可以检测材料表面的微观结构和性质，包括元素成分的分布。
