禁带半导体检测是用于测量材料禁带宽度的一种测试方法，主要用于研究材料的电子能带结构和电子传输性质。以下是常用的禁带半导体检测仪器：
1. 傅里叶变换红外光谱仪：用于测量材料在红外波段的吸收特性，可以确定禁带宽度。
2. 均匀场电致发光光谱仪：用于测量材料在电场激励下的发光特性，可以推断禁带宽度。
3. 示波器：用于测量材料在外加电压下的电流-电压曲线，从而可以确定禁带宽度。
4. 光电流谱仪：用于测量材料在光照下的光电流特性，在不同波长下测量得到的光电流谱可以分析材料的禁带宽度。
5. X射线衍射仪：用于测量材料的晶体结构，通过分析晶体的衍射图样，可以推算禁带宽度。
