检测项目
电荷衰减时间：初始电位下降至50%所需时间（0.1-1000s）
表面电位均匀性：全表面电位偏差值（±5V以内）
光敏层厚度：涂层厚度测量（10-200μm，精度±0.5μm）
暗衰特性：无光照条件下电位衰减速率（0.1-5V/s）
分辨率测试：最小可识别线宽（1-50μm）
检测范围
非晶硅/硒基光导材料
有机光电导体（OPC）涂层
半导体晶圆表面电荷层
印刷电路板光刻胶层
光电子器件功能薄膜
检测方法
ASTM F1895-18：光导材料电荷衰减测试
ISO 11359-2：表面电位扫描分析
GB/T 29163-2012：光敏材料暗衰特性测定
IEC 61340-4-1：静电电位测量标准
GB/T 1771-2007：涂层厚度涡流检测法
检测设备
Trek Model 344：非接触式表面电位计（±2000V量程）
Keithley 6517B：高阻静电计（10fA分辨率）
Bruker Dektak XTL：表面轮廓仪（0.1Å垂直分辨率）
Thermo Scientific HSE 2000：恒温恒湿试验箱（20-80℃/10-90%RH）
Olympus LEXT OLS5000：激光共聚焦显微镜（120nm光学分辨率）
北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】
报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
检测周期：7~15工作日，可加急。
资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。
标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
非标测试：支持定制化试验方案。
售后：报告终身可查，工程师1v1服务。
