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开环增益检测

检测项目

低频开环增益:DC-10kHz范围,测量精度±0.5dB

相位裕度:30°-90°范围,分辨率0.1°

增益带宽积:1MHz-100GHz,误差±3%

温度漂移系数:-40℃~+125℃环境下的增益变化率

噪声密度:10nV/√Hz~10μV/√Hz量程

检测范围

运算放大器:CMOS/Bipolar工艺芯片

功率放大器模块:射频/微波频段器件

传感器信号调理电路:压力/温度传感器前端

伺服控制系统:电机驱动模块

通信模块:5G基站功放单元

检测方法

ASTM F1700-08:半导体器件开环参数测试规程

IEC 60748-4-3:模拟集成电路测试方法

GB/T 18268.1-2010:测量控制系统电磁兼容要求

ISO 16750-2:汽车电子环境应力试验

GB/T 17626.4-2018:电快速瞬变脉冲群抗扰度

检测设备

Keysight E5061B-3L5:网络分析仪,10MHz-3GHz频段

Tektronix MDO3104:混合域示波器,1GHz带宽

Rohde&Schwarz RTM3004:高精度示波器,16位ADC

Chroma 63200A-80-60:大功率直流电源,80V/60A

NI PXIe-4143:模块化源测量单元,100pA分辨率

北京中科光析科学技术研究所【简称:中析研究所】

报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期:7~15工作日,可加急。

资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试:支持定制化试验方案。

售后:报告终身可查,工程师1v1服务。

开环增益检测
其他检测

中析研究所可进行各种检测分析服务,包括不限于:标准试验,非标检测,分析测试,认证设计,产品验收,质量内控,矢量分析,内部控制,司法鉴定等。可出具合法合规、具有公信力的第三方检测报告。