开环增益检测
检测项目
低频开环增益:DC-10kHz范围,测量精度±0.5dB
相位裕度:30°-90°范围,分辨率0.1°
增益带宽积:1MHz-100GHz,误差±3%
温度漂移系数:-40℃~+125℃环境下的增益变化率
噪声密度:10nV/√Hz~10μV/√Hz量程
检测范围
运算放大器:CMOS/Bipolar工艺芯片
功率放大器模块:射频/微波频段器件
传感器信号调理电路:压力/温度传感器前端
伺服控制系统:电机驱动模块
通信模块:5G基站功放单元
检测方法
ASTM F1700-08:半导体器件开环参数测试规程
IEC 60748-4-3:模拟集成电路测试方法
GB/T 18268.1-2010:测量控制系统电磁兼容要求
ISO 16750-2:汽车电子环境应力试验
GB/T 17626.4-2018:电快速瞬变脉冲群抗扰度
检测设备
Keysight E5061B-3L5:网络分析仪,10MHz-3GHz频段
Tektronix MDO3104:混合域示波器,1GHz带宽
Rohde&Schwarz RTM3004:高精度示波器,16位ADC
Chroma 63200A-80-60:大功率直流电源,80V/60A
NI PXIe-4143:模块化源测量单元,100pA分辨率
北京中科光析科学技术研究所【简称:中析研究所】
报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
检测周期:7~15工作日,可加急。
资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。
标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
非标测试:支持定制化试验方案。
售后:报告终身可查,工程师1v1服务。