检测项目
1. 相位延迟量（测量范围：0.1°-360°，分辨率0.01°）
2. 频率响应范围（10Hz-1MHz，线性度误差≤±0.5%）
3. 温度稳定性系数（-40℃至+150℃，温漂≤0.003%/℃）
4. 介电损耗角正切值（tanδ≤5×10⁻⁴）
5. 谐波畸变率（THD≤0.1%@1kHz）
检测范围
1. 液晶显示材料（TFT-LCD/OLED基板）
2. 光纤通信组件（波分复用器/光调制器）
3. 压电陶瓷材料（PZT-5H/PMN-PT）
4. 微波介质基板（Rogers RO4003C/FR-4）
5. MEMS传感器件（陀螺仪/加速度计）
检测方法
1. ASTM D8311-20《电介质材料相位特性测试规程》
2. ISO 14707:2021《光学元件二次相位因数测定方法》
3. GB/T 18329-2020《压电材料介电性能试验方法》
4. IEC 61189-3-719:2019《高频材料相位一致性测试》
5. GB/T 1409-2022《固体绝缘材料介电性能试验导则》
检测设备
1. Keysight N5245B网络分析仪（10MHz-50GHz矢量网络测试）
2. Rohde & Schwarz FSW67频谱分析仪（最高67GHz相位噪声测量）
3. Tektronix MDO3104混合域示波器（时频域同步分析）
4. Agilent 4294A精密阻抗分析仪（40Hz-110MHz阻抗相位测量）
5. Chroma 19032 LCR测试系统（0.01Hz-200kHz宽频段测试）
6. Fluke PM6681高精度频率计数器（12位/秒分辨率）
7. Keithley 6517B静电计（10aA电流测量灵敏度）
8. Thermotron ESX-225M环境试验箱（温控精度±0.5℃）
9. Newport OMM-6810B光波前分析仪（λ/1000相位分辨率）
10. Bruker D8 Discover X射线衍射仪（晶体结构关联分析）
北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】
报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
检测周期：7~15工作日，可加急。
资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。
标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
非标测试：支持定制化试验方案。
售后：报告终身可查，工程师1v1服务。
