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带记录密度检测

检测项目

1. 单位面积质量密度:测量范围0.1-5000g/m²,精度±0.5%

2. 厚度方向密度梯度:分辨率达1μm层级梯度分布

3. 体积密度测定:适用0.1-20g/cm³量程范围

4. 表观孔隙率分析:可检孔隙尺寸≥0.1μm

5. 堆积密度测试:涵盖振实与非振实两种模式

检测范围

1. 高分子薄膜材料:锂电池隔膜/包装复合膜/光学膜

2. 金属箔材制品:电解铜箔/铝箔/贵金属溅射靶材

3. 多孔结构材料:陶瓷滤芯/泡沫金属/碳纤维预制体

4. 粉体材料体系:锂电正极材料/3D打印金属粉末/催化剂载体

5. 复合材料构件:CFRP层压板/蜂窝夹芯结构/梯度功能材料

检测方法

国际标准:ASTM D792浮力法、ISO 1183-1浸渍法、ASTM B311气体置换法

国家标准:GB/T 1033.1几何法、GB/T 24586阿基米德法、GB/T 5163松装密度测定法

特殊方法:X射线透射法(EN 13833)、β射线反散射法(ISO 15901-3)

检测设备

1. Mettler Toledo XS205DUAL电子天平:分辨率0.01mg,带密度测定组件

2. Mitutoyo Litematic VL-50测厚仪:±0.1μm精度,自动梯度扫描功能

3. Quantachrome Ultrapyc 5000气体置换密度仪:氦气介质,0.01cm³分辨率

4. Malvern Mastersizer 3000激光粒度仪:同步测定粉体振实密度

5. Keyence VHX-7000数字显微镜:三维表面孔隙率分析系统

6. Shimadzu AGX-V电子万能试验机:配备专用压缩密度测试夹具

7. Thermo Scientific Nicolet iN10显微红外光谱仪:结合密度分布化学成像

8. Bruker SkyScan1272微CT系统:三维体密度无损检测装置

9. Labthink MFY-01密封式密度测试仪:符合GB/T 533标准要求

10. Sartorius Cubis系列微量天平:配备真空浮力法专用吊篮系统

北京中科光析科学技术研究所【简称:中析研究所】

报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期:7~15工作日,可加急。

资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试:支持定制化试验方案。

售后:报告终身可查,工程师1v1服务。

带记录密度检测
其他检测

中析研究所可进行各种检测分析服务,包括不限于:标准试验,非标检测,分析测试,认证设计,产品验收,质量内控,矢量分析,内部控制,司法鉴定等。可出具合法合规、具有公信力的第三方检测报告。