直接禁带半导体检测主要用来测试材料的禁带宽度以及能带结构，用于分析材料的电子结构和导电性能。
常见的直接禁带半导体检测对象包括但不限于：
1. 半导体材料：如硅(Si)、锗(Ge)、镓(Ga)等常见的半导体材料。
2. 结晶材料：如硅锗合金、镓锗合金等。
3. 薄膜材料：如硅薄膜、氮化硅薄膜等。
4. 纳米材料：如量子点、纳米线等。
5. 光电材料：如太阳能电池材料、光电器件材料等。
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中析研究所
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