预烧检测是一种用来确定电子元件或电路板在高温环境下的耐受能力的测试方法。
该检测方法包括：
1. 热冲击测试：将被测试的电子元件或电路板置于高温环境中，然后快速转移到低温环境中，观察其是否出现热胀冷缩导致的物理损害。
2. 温度循环测试：将被测试的电子元件或电路板在高低温环境间循环多次，观察其是否出现温度变化引起的性能不稳定或物理损害。
3. 热老化测试：将被测试的电子元件或电路板长时间置于高温环境中，观察其是否出现老化、降解、短路等情况。
4. 热膨胀测试：通过热循环或温度变化对被测试的电子元件或电路板进行冷热胀冷缩的测量，判断其对温度变化的适应能力。
5. 静电放电测试：模拟静电放电情况，对被测试的电子元件或电路板进行放电，观察其是否出现放电引起的损坏情况。
6. 抗气候变化测试：模拟不同地域的气候条件，对被测试的电子元件或电路板进行恶劣气候环境下的测试，观察其是否能够正常工作。
7.抗振动测试：通过模拟不同振动情况，对被测试的电子元件或电路板进行振动测试，观察其是否能够抵御振动引起的松动、脱落等问题。
8. 抗冲击测试：通过模拟不同冲击情况，对被测试的电子元件或电路板进行冲击测试，观察其是否能够抵御冲击引起的物理损害。
