检测项目
1. 等离子体温度测量：电子温度（Te）10-20 keV范围精度±5%
2. 离子密度分析：粒子密度（n）1×10²⁰-5×10²⁰ m⁻³误差≤3%
3. 能量约束时间测定：τ_E 3-10秒区间重复性偏差＜0.8秒
4. 三重乘积验证：nTτ≥1×10²¹ keV·s/m³达标判定
5. 辐射功率监测：同步测量软X射线（0.1-10 keV）与中子产额（10¹⁴-10¹⁶ n/s）
检测范围
1. 托卡马克装置第一壁铍/钨复合材料
2. 惯性约束聚变用氘氚冷冻靶丸
3. 超导磁体系统Nb₃Sn线材
4. 偏滤器石墨瓦片组件
5. 液态锂增殖层流道系统
检测方法
1. ASTM E1441-19等离子体光谱诊断标准
2. ISO 21482:2019聚变中子能谱测量规范
3. GB/T 13367-2022核聚变装置诊断系统技术要求
4. IEC 63127:2020高温等离子体电磁辐射测量导则
5. GB/T 39218-2020磁约束聚变装置试验数据采集规范
检测设备
1. FLIR X8500sc红外热像仪：非接触式壁面温度监测（3-5 μm波段）
2. Hiden EQP1000质谱仪：等离子体成分实时分析（质量分辨率0.01 amu）
3. Keysight DSOX92504A示波器：高速数据采集（25 GHz带宽）
4. Amptek XR-100CR硅漂移探测器：X射线能谱测量（FWHM＜140 eV）
5. LeCroy HDO8108高分辨率示波器：纳秒级脉冲信号记录
6. Princeton Instruments PIXIS-XO:2048B CCD相机：可见光辐射成像
7. Agilent N5227A网络分析仪：微波干涉测量（67 GHz频率范围）
8. Bruker EMXplus EPR谱仪：电子回旋共振诊断（9-400 GHz频段）
9. Ortec Detective-EX HPGe探测器：中子产额精确测量（相对效率40%）
10. Vaisala PTU305温湿度传感器：环境参数监控（精度±0.1℃/±1%RH）
北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】
报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
检测周期：7~15工作日，可加急。
资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。
标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
非标测试：支持定制化试验方案。
售后：报告终身可查，工程师1v1服务。
