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硅铁硅铁粒检测

检测项目

1. 主元素含量:Si≥70%(质量分数),Fe≤25%,采用差量法计算

2. 碳元素测定:C≤0.20%,高频红外碳硫仪分析

3. 磷元素限量:P≤0.040%,钼蓝分光光度法测定

4. 硫元素控制:S≤0.030%,红外吸收法检测

5. 粒度分布:0.2-10mm颗粒占比≥90%,激光粒度仪测试

6. 表观密度:≥3.2g/cm³,振实密度仪测量

7. 游离二氧化硅:≤1.5%,X射线衍射定量分析

检测范围

1. 铸造用硅铁粒(牌号FeSi75-A)

2. 炼钢用硅铁块(牌号FeSi72-B)

3. 金属镁冶炼还原剂(粒径3-30mm)

4. 焊条涂层用微粉(200-325目)

5. 特种合金添加剂(低铝型FeSi65-Al0.5)

6. 球墨铸铁孕育剂(Ca/Sr复合处理型)

7. 光伏级高纯硅原料(Si≥99%)

检测方法

1. GB/T 2272-2020《硅铁化学分析方法》

2. ASTM E1019-18《钢中碳硫测定标准方法》

3. ISO 439:2020《硅铁合金-硅含量测定-重量法》

4. GB/T 4333.8-2022《硅铁化学分析第8部分:磷含量的测定》

5. ISO 4689:2023《铁合金-硫含量的测定-红外线吸收法》

6. GB/T 13247-2019《铁合金产品粒度的取样和检测方法》

7. ASTM B214-22《金属粉末筛分粒度标准试验方法》

检测设备

1. Thermo Scientific ARL 4460直读光谱仪:多元素同步定量分析

2. HORIBA EMIA-920V2高频红外碳硫仪:ppm级精度测量

3. Malvern Mastersizer 3000激光粒度仪:0.01-3500μm测量范围

4. Shimadzu XRD-7000 X射线衍射仪:物相组成定量分析

5. Quantachrome Ultrapyc 5000真密度仪:氦气置换法密度测量

6. Agilent 5110 ICP-OES电感耦合等离子体发射光谱仪:痕量元素检测

7. Retsch AS200 control振动筛分机:20μm-25mm分级筛分

8. Mettler Toledo XPR205DR微量天平:0.01mg精度称量

9. Eltra CS-2000氧氮氢分析仪:气体元素联测系统

10. Labthink FBT-9振实密度测试仪:自动振实频率控制

北京中科光析科学技术研究所【简称:中析研究所】

报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期:7~15工作日,可加急。

资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试:支持定制化试验方案。

售后:报告终身可查,工程师1v1服务。

硅铁硅铁粒检测
其他检测

中析研究所可进行各种检测分析服务,包括不限于:标准试验,非标检测,分析测试,认证设计,产品验收,质量内控,矢量分析,内部控制,司法鉴定等。可出具合法合规、具有公信力的第三方检测报告。