检测项目
1. 阳离子半径测定：包括Na⁺(0.95-1.16Å)、Ca²⁺(0.99-1.26Å)等18种常见阳离子的晶体场稳定能计算
2. 阴离子半径测定：涵盖O²⁻(1.40Å)、F⁻(1.33Å)等12种阴离子的电子云分布分析
3. 配位数相关性分析：建立4配位至12配位体系的离子半径修正模型
4. 温度效应测试：测定20-1500℃范围内离子半径热膨胀系数（α=0.5-3.0×10⁻⁶/K）
5. 压力依赖性研究：0.1MPa-30GPa压力条件下的半径压缩率（Δr/r=0.8-5.3%）
检测范围
1. 无机非金属材料：硅酸盐陶瓷（SiO₂-Al₂O₃体系）、钙钛矿型氧化物（ABO₃结构）
2. 金属合金材料：高温合金（Ni基单晶）、形状记忆合金（Ti-Ni-Cu系）
3. 半导体材料：Ⅲ-Ⅴ族化合物（GaAs、InP）、二维材料（MoS₂、WS₂）
4. 催化剂材料：贵金属负载型催化剂（Pt/Al₂O₃）、分子筛催化剂（ZSM-5型）
5. 地质矿物样本：橄榄石族（(Mg,Fe)₂SiO₄）、长石族（KAlSi₃O₈-NaAlSi₃O₈）
检测方法
1. X射线衍射法：ASTM E975-20《晶体点阵参数测定标准》、GB/T 23413-2009《纳米材料晶体结构测试》
2. 电子探针微区分析：ISO 22309:2011《微束分析-定量点分析》
3. 中子衍射技术：GB/T 36075.1-2018《晶体结构测定中子衍射法》
4. 扩展X射线吸收精细结构谱（EXAFS）：ISO 20884:2019《石油产品硫含量测定》附录C
5. 高分辨透射电镜（HRTEM）：ASTM E3060-16《透射电镜选区电子衍射分析方法》
检测设备
1. Rigaku SmartLab X射线衍射仪：配备HyPix-3000探测器，角度分辨率0.0001°
2. JEOL JXA-8530F Plus电子探针：空间分辨率达6nm，元素分析范围B~U
3. Bruker D8 ADVANCE中子衍射仪：波长范围0.1-10Å，最大样品尺寸Φ50mm
4. Thermo Fisher Talos F200X透射电镜：点分辨率0.12nm，配备SuperX能谱系统
5. PANalytical Empyrean X射线荧光光谱仪：检测限达ppm级，重复性±0.05%
6. Shimadzu XAFS3000同步辐射装置：能量分辨率ΔE/E≤2×10⁻⁴
7. Malvern Zetasizer Nano ZSP激光粒度仪：粒径测量范围0.3nm-10μm
8. Netzsch LFA 467 HyperFlash导热仪：温度范围-125~1100℃，升温速率500K/min
9. Anton Paar HTK 1200N高温炉：最高温度1600℃，真空度10⁻⁶mbar
10. Agilent 7900 ICP-MS质谱仪：质量范围2-270amu，检出限＜ppt级
北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】
报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
检测周期：7~15工作日，可加急。
资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。
标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
非标测试：支持定制化试验方案。
售后：报告终身可查，工程师1v1服务。
