检测项目
1. 光斑直径测量：采用1/e²强度法测定（范围0.5-500μm）
2. 功率密度分布：三维能量分布测绘（分辨率±0.1W/cm²）
3. 发散角测定：全角测量精度±0.05mrad
4. 波长稳定性：光谱仪监测（精度±0.1nm）
5. 能量均匀性：CCD矩阵分析（95%置信区间）
检测范围
1. 高折射率光学透镜（熔融石英/氟化钙材质）
2. 工业级激光加工头（波长1064nm/10.6μm）
3. 光纤耦合器（芯径50-600μm）
4. 医疗激光设备（Class IV级输出）
5. 半导体晶圆加工系统（紫外-近红外波段）
检测方法
ASTM E903-20 光束轮廓测量标准规程
ISO 11146-1:2021 激光束宽度与发散角测定
GB/T 13740-2017 激光辐射功率密度测试方法
ISO 13694:2018 光学激光系统功率密度分布测试
GB/T 31359-2015 半导体激光器参数测量规范
检测设备
1. Coherent BeamMaster™-USB：光斑直径/发散角同步测量（0.4-12μm波长）
2. Ophir BeamGage®6.4：三维功率密度分析（支持CW/脉冲模式）
3. Thorlabs BP209-IR/M：中红外光束分析仪（1.5-12μm光谱响应）
4. Newport LBP2-HE：高能激光束分析系统（最大承受功率500W）
5. Hamamatsu C10910-10：紫外增强型CCD相机（200-400nm波段）
6. Keysight N7744A：多通道光功率计（波长范围190-1650nm）
7. Gentec-EO XLP12-3S-H2：水冷式高功率探头（最大30kW/cm²）
8. Primes FocusMonitor™：实时焦斑监测系统（采样率10kHz）
9. Spiricon M2-200s：M²因子测量仪（符合ISO 11146标准）
10. Ocean Insight HR4000CG-UV-NIR：高分辨率光谱仪（200-1100nm）
北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】
报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
检测周期：7~15工作日，可加急。
资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。
标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
非标测试：支持定制化试验方案。
售后：报告终身可查，工程师1v1服务。
