检测项目
1. 阈值电压（Threshold Voltage）：测量范围±10V，精度±0.01V
2. 动态响应时间（Response Time）：分辨率0.1ms
3. 漏电流稳定性（Leakage Current Stability）：量程1pA-10mA
4. 临界斜率（Subthreshold Swing）：计算单位mV/decade
5. 温度依赖性（Temperature Coefficient）：测试范围-40℃~150℃
检测范围
1. 半导体材料：硅基芯片、GaN晶圆
2. 储能器件：锂离子电池隔膜、固态电解质
3. 生物传感器：葡萄糖传感器电极、DNA探针阵列
4. 功能涂层：导电聚合物薄膜、防腐蚀镀层
5. 电子元件：MOSFET晶体管、忆阻器单元
检测方法
1. ASTM F1241：半导体器件阈值电压测试规范
2. ISO 16700：扫描电镜原位电学性能表征方法
3. GB/T 18287：锂电池隔膜临界击穿电位测定
4. IEC 60749-27：半导体器件高温阈值漂移试验
5. GB/T 35106：功能涂层临界润湿电位测试规程
检测设备
1. Keithley 4200A-SCS：半导体参数分析系统
2. Agilent B1500A：精密器件特性分析仪
3. Biologic VMP-300：多通道电化学工作站
4. Keysight B2901A：精密源表模块
5. Tektronix AFG31000：任意波形发生器
6. Hioki IM3590：化学阻抗分析仪
7. Gamry Interface 5000E：腐蚀电位测试系统
8. Cascade Summit 12000B：探针台测试平台
9. Zahner Zennium Pro：宽频介电谱分析仪
10. Mettler Toledo DSC3：差示扫描量热仪
北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】
报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
检测周期：7~15工作日，可加急。
资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。
标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
非标测试：支持定制化试验方案。
售后：报告终身可查，工程师1v1服务。
