再结晶核心检测主要用于判断材料中是否存在再结晶核心，以及对再结晶核心的数量、分布和形态进行分析和评估。
常见的再结晶核心检测方法包括但不限于：
1. 金相显微镜观察：使用金相显微镜对材料进行观察和分析，通过观察再结晶核心的分布、形态和尺寸，可以初步判断再结晶核心的性质。
2. X射线衍射分析：利用X射线衍射仪对材料进行分析，通过衍射峰的形状和强度，可以确定再结晶核心的存在与否，并进一步了解其晶体结构和晶粒尺寸。
3. 晶粒开放度测试：通过晶粒开放度测试仪，可测定材料中晶粒的开放度，进而判断再结晶核心的分布情况。
4. 电子背散射显微镜观察：利用电子背散射显微镜观察材料的显微组织，通过观察再结晶核心的形态和位置，可以评估材料的再结晶程度。
