罩极法检测（Shielded-Gate Test）是对集成电路（IC）进行可靠性和功能测试的一种方法。
该检测范围涵盖但不限于以下几个方面：
1. 功能测试：对集成电路的逻辑功能进行测试，包括输入输出信号的正确性、电路的稳定性和可靠性。
2. 电气性能测试：对集成电路的电气参数进行测试，包括电压、电流、功耗等。
3. 速度测试：对集成电路的工作速度进行测试，包括时钟频率、延迟时间等。
4. 器件可靠性测试：对集成电路的长时间使用和环境变化下的可靠性进行测试，包括温度、湿度、振动等因素。
5. 信号完整性测试：对集成电路的输入和输出信号的完整性进行测试，包括信号波形、噪声干扰等。
