直接耦合晶体管逻辑（Direct Coupled Transistor Logic，简称DCTL）是一种常用的数字集成电路逻辑家族，常用于逻辑门、触发器和计数器等电路设计。
下面是与直接耦合晶体管逻辑检测相关的一些项目：
输入电压范围测试：确定逻辑门所能接受的输入电压范围。
输入电流测试：测量逻辑门输入端的电流。
输出电压测试：检测逻辑门输出端的电压水平。
输出电流测试：测量逻辑门输出端的电流大小。
传输延迟测试：测定逻辑门输入与输出之间的传输延迟。
功耗测试：评估逻辑门在工作状态下的功耗。
幅值传输特性测试：测量逻辑门对输入信号幅值的传输特性。
噪声容限测试：评估逻辑门对输入信号中的噪声的容限。
温度特性测试：测试逻辑门在不同温度下的性能变化。
工作电压测试：确定逻辑门所需的工作电压。
输入阻抗测试：测量逻辑门输入端的电阻。
输出阻抗测试：检测逻辑门输出端的电阻。
逻辑门的输入/输出容性测试：测量逻辑门输入和输出的电容。
逻辑门的垂直偏移测试：评估逻辑门在逻辑电平之间的垂直偏移。
逻辑门的水平偏移测试：测量逻辑门在逻辑电平范围内的水平偏移。
逻辑门的功率供应电流测试：检测逻辑门所需的功率供应电流。
逻辑门的功率供应电压测试：确定逻辑门所需的功率供应电压。
逻辑门的功率供应波形测试：评估逻辑门功率供应的波形质量。
逻辑门的噪声测试：测量逻辑门输出中的噪声。
逻辑门的交叉耦合测试：评估逻辑门之间的交叉耦合情况。
逻辑门的功耗功率特性测试：测量逻辑门在不同功耗下的性能表现。
逻辑门的速度测试：评估逻辑门的工作速度。
逻辑门的功耗/延迟比测试：计算逻辑门的功耗与传输延迟的比值。
逻辑门的工作电流波形测试：测试逻辑门工作电流的波形。
逻辑门的工作电压波形测试：检测逻辑门工作电压的波形。
逻辑门的高电平噪声测试：评估逻辑门输出高电平时的噪声。
逻辑门的低电平噪声测试：测量逻辑门输出低电平时的噪声。
