硒化铅检测主要用于半导体、电子、光学等领域，用于检测硒化铅材料的质量和性能。
常见的硒化铅检测对象包括但不限于：
硒化铅晶体：用于检测晶体的结构、纯度、缺陷等。
硒化铅薄膜：用于检测薄膜的厚度、均匀性、光学性能等。
硒化铅粉末：用于检测粉末的粒度、纯度、化学组成等。
硒化铅器件：用于检测器件的性能、可靠性等。
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