位垒形状检测主要应用于半导体器件、电子元件等领域，用于测试位垒的形状和尺寸。
常见的位垒形状检测对象包括但不限于：
二极管：如 PN 结二极管、肖特基二极管等。
三极管：如双极型三极管、场效应三极管等。
集成电路：如芯片、微处理器等。
电子元件：如电阻、电容、电感等。
半导体材料：如硅、锗等。
金属电极：如铝电极、金电极等。
绝缘层：如二氧化硅绝缘层等。
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中析研究所
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