突变型折射率分布检测主要用于光学材料和器件中，用于测试其折射率分布的突变情况。
常见的突变型折射率分布检测对象包括但不限于：
光纤：如单模光纤、多模光纤等。
光波导：如平面光波导、条形光波导等。
光学晶体：如铌酸锂晶体、钽酸锂晶体等。
光学薄膜：如增透膜、反射膜等。
微纳光学结构：如光子晶体、超表面等。
光学器件：如透镜、棱镜、光栅等。
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中析研究所
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