透红外晶体检测主要应用于光学材料、电子材料、激光材料等领域，用于测试晶体的透过率、吸收系数、折射率等光学性能。
常见的透红外晶体检测对象包括但不限于：
锗（Ge）晶体：具有较高的透过率和折射率，广泛应用于红外光学系统中。
硅（Si）晶体：在中红外波段具有较好的透过率，常用于红外探测器和光学窗口。
碲镉汞（HgCdTe）晶体：是一种重要的红外探测器材料，具有高灵敏度和宽波段响应。
硫化锌（ZnS）晶体：在中红外波段具有较高的透过率和硬度，常用于红外窗口和光学元件。
氟化钙（CaF2）晶体：在中红外波段具有良好的透过率和低折射率，常用于光学窗口和透镜。
蓝宝石（Al2O3）晶体：具有高硬度和良好的光学性能，常用于红外窗口和光学元件。
硒化锌（ZnSe）晶体：在中红外波段具有较高的透过率和折射率，常用于红外光学系统中。
