位错再排列检测主要应用于金属材料、半导体材料等领域，用于研究材料的微观结构和性能。
常见的位错再排列检测对象包括但不限于：
金属材料：如钢铁、铝合金、铜合金等。
半导体材料：如硅、锗、砷化镓等。
晶体材料：如石英、金刚石等。
复合材料：如碳纤维增强复合材料等。
其他材料：如陶瓷、玻璃等。
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中析研究所
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