未满能级检测主要用于半导体材料和器件的研究与生产中，用于测试半导体材料中的未满能级。
常见的未满能级检测对象包括但不限于：
半导体材料：如硅、锗、砷化镓等。
半导体器件：如二极管、晶体管、集成电路等。
外延片：如硅外延片、砷化镓外延片等。
薄膜：如半导体薄膜、绝缘薄膜等。
量子阱结构：如量子阱激光器、量子阱探测器等。
纳米结构：如纳米线、纳米管等。
其他相关材料和器件。
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