伪同晶生长检测主要应用于晶体生长和材料科学领域，用于检测和分析晶体生长过程中的伪同晶现象。
常见的伪同晶生长检测对象包括但不限于：
晶体材料：如半导体晶体、金属晶体、氧化物晶体等。
薄膜材料：如金属薄膜、半导体薄膜、氧化物薄膜等。
纳米材料：如纳米晶体、纳米线、纳米管等。
复合材料：如晶体复合材料、薄膜复合材料等。
生物材料：如蛋白质晶体、DNA 晶体等。
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中析研究所
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