位垒高度检测主要应用于半导体器件、集成电路等领域，用于测量半导体器件中的位垒高度。
常见的位垒高度检测对象包括但不限于：
二极管：如 PN 结二极管、肖特基二极管等。
晶体管：如双极型晶体管、场效应晶体管等。
集成电路：如数字集成电路、模拟集成电路等。
其他半导体器件：如太阳能电池、发光二极管等。
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中析研究所
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