位错宽度检测主要应用于晶体材料和金属材料等领域，用于测量位错的宽度和分布情况。
常见的位错宽度检测对象包括但不限于：
晶体材料：如硅、锗、砷化镓等。
金属材料：如钢铁、铝合金、铜合金等。
半导体材料：如硅片、芯片等。
陶瓷材料：如氧化铝、氧化锆等。
复合材料：如碳纤维增强复合材料等。
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中析研究所
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