完全反冲检测主要用于电子设备和半导体行业，用于检测集成电路中的缺陷和故障。
常见的完全反冲检测对象包括但不限于：
集成电路芯片：如微处理器、存储器、逻辑芯片等。
半导体器件：如二极管、晶体管、场效应管等。
印刷电路板：用于连接电子元件的电路板。
电子模块：如电源模块、通信模块等。
芯片封装：保护芯片并提供电气连接的封装。
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中析研究所
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