早势垒检测是一种用于测量晶体成长速率的实验方法，主要应用于材料科学领域。
早势垒检测的原理是利用晶体表面的能量垒和外界施加的电场力来控制晶体的生长速率。
常见的早势垒检测的对象包括但不限于：
半导体材料：如硅、镓、砷化镓等。
金属材料：如铜、铝、铁等。
陶瓷材料：如氧化锆、氧化铝等。
聚合物材料：如聚乙烯、聚丙烯等。
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中析研究所
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