再结晶结构检测是用来分析材料的晶体结构和晶格参数的一种方法。
常用的再结晶结构检测方法包括：
1. X射线衍射（XRD）：XRD是最常用的再结晶结构分析技术。通过照射材料样品，分析X射线在晶体中的衍射模式，可以确定材料的晶体结构和晶格参数。
2. 电子背散射衍射（EBSD）：EBSD是一种基于电子束在样品上的衍射模式来分析晶体结构的技术。它可以提供更高分辨率的晶格参数和晶体取向信息。
3. 傅里叶变换红外光谱（FTIR）：FTIR可以通过分析物质与红外辐射的相互作用来确定晶格结构。该技术可以用于材料的晶体有序性和晶格破坏度的评估。
4. 拉曼光谱（Raman）：拉曼光谱可以通过测量样品与激光交互作用后的散射光谱，来分析材料的晶格结构和分子振动信息。
5. 原子力显微镜（AFM）：AFM可以在原子尺度上测量材料的表面形貌和晶体结构。通过扫描样品表面，并测量表面的力作用，可以获取晶格参数和晶体的表面形貌。
总的来说，再结晶结构检测可以通过以上多种方法进行，选择适合的方法取决于样品的特性和需要获得的分析结果。
