杂质分布检测是一种用于检测材料中各种杂质分布情况的方法。以下是几种常用的杂质分布检测方法：
1. 红外光谱分析法：利用红外光谱仪对材料进行扫描，根据吸收峰的位置和强度，可以分析材料中存在的有机和无机杂质。
2. 热分析法：通过对样品进行加热或冷却，并同时测量温度和质量变化，可以分析材料中的水分、挥发性物质和燃烧残渣等杂质。
3. 气相色谱-质谱联用技术：将样品分离成各个组分，然后通过质谱仪对各组分进行定性和定量分析，可以检测材料中微量有机物的存在。
4. 粒度分布检测：通过粒度分析仪对材料中的颗粒进行测量，可以得到颗粒的大小分布情况，从而分析材料中的颗粒杂质。
5. X射线衍射分析法：利用X射线衍射仪对材料进行扫描，根据衍射峰的位置和强度，可以分析材料中的晶体结构和晶格缺陷。
