晶粒度分析：通过显微镜观察金属材料的晶粒大小和分布情况。
电子背散射衍射（EBSD）：可以获得晶体取向和晶粒尺寸等信息。
X 射线衍射（XRD）：用于分析晶体结构和晶粒尺寸。
扫描电子显微镜（SEM）：结合能谱分析，可观察晶粒形态和成分。
金相显微镜：常用于金属材料的金相组织观察和晶粒度测量。
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中析研究所
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