X 射线衍射分析：用于确定析出物的晶体结构和成分。
扫描电子显微镜（SEM）：可观察析出物的形态、大小和分布。
能谱分析（EDS）：与 SEM 结合，用于分析析出物的元素组成。
透射电子显微镜（TEM）：提供更高分辨率的析出物结构信息。
电子探针微区分析（EPMA）：定量分析析出物的化学成分。
热重分析（TGA）：检测析出物的热稳定性和分解过程。
差示扫描量热法（DSC）：分析析出物的相变和热性能。
X 射线荧光光谱分析（XRF）：快速测定析出物中的元素含量。
原子吸收光谱（AAS）：检测析出物中的金属元素。
电感耦合等离子体发射光谱（ICP-OES）：同时分析多种元素在析出物中的含量。
