物相鉴定检测-检测项目
物相鉴定检测是一种用于确定物质中存在的各种相(如晶体相、非晶相、有机相、无机相等)及其含量的分析方法。
X 射线衍射(XRD):通过测量物质对 X 射线的衍射图谱,确定物质的晶体结构和相组成。
电子衍射(ED):用于分析纳米级材料的晶体结构和相组成。
热分析(TA):如差示扫描量热法(DSC)、热重分析(TGA)等,可用于确定物质的相变温度、热稳定性等。
红外光谱(IR):分析物质中化学键的振动模式,用于鉴定有机相和无机相。
拉曼光谱(Raman):提供关于分子振动和结构的信息,可用于区分不同的相。
扫描电子显微镜(SEM):观察物质的表面形貌和微观结构,有助于确定相的分布。
透射电子显微镜(TEM):提供更高分辨率的微观结构信息,可用于分析晶体相的晶格结构。
穆斯堡尔谱(Mössbauer spectroscopy):用于研究含铁物质的相组成和结构。
中子衍射(ND):对轻元素敏感,可用于分析含有轻元素的物质的相结构。
核磁共振(NMR):分析物质中原子核的磁性行为,可用于鉴定有机相和某些无机相。
元素分析(EA):确定物质中各种元素的含量,有助于推断相的组成。
X 射线荧光光谱(XRF):用于快速分析物质中的元素组成。
电感耦合等离子体发射光谱(ICP-OES):可同时分析多种元素的含量。
气相色谱-质谱联用(GC-MS):用于分析有机物质的相组成。
液相色谱-质谱联用(LC-MS):适用于分析复杂有机混合物的相组成。
激光拉曼光谱成像(LRSI):可同时获得物质的拉曼光谱和空间分布信息。
原子力显微镜(AFM):用于观察物质的表面形貌和纳米级结构。
磁力显微镜(MFM):检测物质的磁性分布。
扫描隧道显微镜(STM):提供原子级分辨率的表面形貌信息。
低温 X 射线衍射(LTXRD):在低温下进行 XRD 分析,研究物质的低温相变。
高温 X 射线衍射(HTXRD):在高温下进行 XRD 分析,研究物质的高温相变和热稳定性。
原位 X 射线衍射(in situ XRD):在实际反应或处理条件下进行 XRD 分析,实时监测相的变化。
小角 X 射线散射(SAXS):用于研究物质的微观结构和相分布。
广角 X 射线散射(WAXS):提供关于物质晶体结构和相组成的信息。
动态光散射(DLS):测量颗粒的大小和分布,可用于分析分散体系中的相。
静态光散射(SLS):用于研究大分子的分子量和尺寸分布。
偏振光显微镜(PLM):观察物质的双折射现象,用于鉴定各向异性相。
比表面积测定(BET):测量物质的比表面积,可用于分析多孔材料的相组成。