电子显微镜观察法：利用电子显微镜直接观察材料中位错的形态和分布。
X 射线衍射法：通过分析 X 射线衍射图谱来确定位错的存在和特征。
中子衍射法：与 X 射线衍射法类似，但中子对材料的穿透力更强，适用于研究大块材料中的位错。
正电子湮没谱法：测量正电子与材料中位错等缺陷相互作用后的湮没特性，以推断位错的信息。
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中析研究所
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