X 射线衍射法：通过测量晶体中 X 射线的衍射图案，分析位错的类型和密度。
电子显微镜法：利用电子显微镜直接观察位错的形态和分布。
光学显微镜法：在光学显微镜下观察位错引起的晶体表面的滑移线。
原子力显微镜法：可以提供位错的高分辨率图像和力学性质。
电阻测量法：通过测量材料的电阻变化来间接检测位错的存在和运动。
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中析研究所
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