X 射线衍射法：通过测量晶体中的衍射峰位错来确定位错密度和类型。
电子显微镜法：直接观察位错的形态和分布。
光学显微镜法：在适当的条件下，可以观察到位错的存在。
原子力显微镜法：用于高分辨率的位错检测。
电阻率测量法：位错会影响材料的电阻率，通过测量电阻率的变化来间接检测位错。
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中析研究所
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