X 射线衍射法：通过对细晶种的衍射图谱进行分析，确定其晶体结构和相组成。
扫描电子显微镜（SEM）：观察细晶种的表面形貌和颗粒大小。
粒度分析：测量细晶种的粒径分布。
热分析：如差示扫描量热法（DSC），用于研究细晶种的热性能。
元素分析：确定细晶种中所含的元素种类和含量。
X 射线荧光光谱法（XRF）：快速测定细晶种中的元素成分。
傅里叶变换红外光谱法（FTIR）：分析细晶种的化学键和官能团。
拉曼光谱法：提供关于细晶种分子结构的信息。
比表面积测定：评估细晶种的表面积大小。
化学分析：用于测定特定化学成分的含量。
