电子显微镜检测：利用电子显微镜对材料进行观察，可以直接观察到位错的存在和形态。
X 射线衍射检测：通过 X 射线衍射技术，可以分析材料的晶体结构，从而间接检测到位错的存在。
原子力显微镜检测：原子力显微镜可以对材料表面进行高分辨率成像，能够检测到位错的存在和分布。
光学显微镜检测：在特定条件下，光学显微镜也可以观察到位错，但分辨率相对较低。
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中析研究所
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