应变片测量法：通过粘贴应变片在试件上，测量应变片的电阻变化来确定试件的应变情况，从而计算出温度应力。
热电偶测量法：利用热电偶测量试件表面的温度分布，进而分析温度应力。
有限元分析法：通过建立试件的有限元模型，模拟温度变化引起的应力分布。
热像仪测量法：使用热像仪获取试件表面的温度场，为温度应力分析提供数据。
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中析研究所
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