X 射线衍射法：通过测量晶体的衍射图谱，确定晶体中原子的排列方式和位向关系。
电子衍射法：利用电子束与晶体相互作用产生的衍射现象，分析晶体的结构和位向关系。
扫描电子显微镜法：通过扫描电子束在样品表面的反射或散射，获得样品的微观结构和位向信息。
原子力显微镜法：利用原子间的相互作用力，测量样品表面的形貌和位向关系。
磁力显微镜法：通过检测样品表面的磁场分布，确定磁性材料的位向关系。
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