电子显微镜观察：通过电子显微镜可以直接观察到位错的重新排列情况。
X 射线衍射：利用 X 射线衍射技术可以分析材料的晶体结构，从而间接检测位错的重新排列。
原子力显微镜：原子力显微镜可以提供高分辨率的表面形貌图像，有助于观察位错的重新排列。
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中析研究所
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