电子显微镜观察：通过电子显微镜直接观察位错的形态和迁移情况。
X 射线衍射：分析晶体结构，确定位错的存在和类型。
原子力显微镜：测量表面形貌，检测位错引起的微小变化。
光学显微镜：在特定条件下可观察到位错。
电阻率测量：位错迁移会影响材料的电阻率。
力学性能测试：如硬度、强度等，间接反映位错迁移情况。
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中析研究所
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