X 射线衍射法：通过分析 X 射线在晶体中的衍射图案，来确定位错的分布情况。
电子显微镜法：利用电子束照射样品，观察位错的形态和分布。
原子力显微镜法：通过检测探针与样品表面的相互作用力，来成像位错的分布。
同步辐射 X 射线衍射法：具有更高的分辨率和灵敏度，可用于原位检测位错分布。
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中析研究所
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