电子探针微区分析（EPMA）：通过电子束激发样品表面，测量特征 X 射线的能量和强度，确定元素的种类和含量。适用于微米级别的样品分析。
X 射线荧光光谱分析（XRF）：利用 X 射线激发样品，测量荧光 X 射线的能量和强度，分析元素的种类和含量。可用于固体、液体和粉末样品的分析。
原子吸收光谱分析（AAS）：将样品蒸发成气态原子，通过测量原子对特定波长光的吸收，确定元素的含量。适用于痕量元素的分析。
电感耦合等离子体发射光谱分析（ICP-OES）：将样品雾化后引入等离子体中，激发元素发射特征光谱，通过测量光谱强度进行元素分析。可同时分析多种元素。
电感耦合等离子体质谱分析（ICP-MS）：结合了 ICP 的高效电离能力和质谱的高灵敏度，能够准确测量元素的同位素组成和含量。适用于超痕量元素的分析。
化学分析方法：如重量法、容量法等，通过化学反应和定量分析确定元素的含量。常用于常量元素的分析。
