光学显微镜检测：通过显微镜观察样品表面的微观结构，检测退火孪生带的存在和特征。
电子背散射衍射（EBSD）分析：可以确定晶体取向和微观结构，用于检测退火孪生带。
X 射线衍射（XRD）分析：用于分析晶体结构，可检测退火孪生带的存在。
全站搜索
中析研究所
- 北京总部: 北京市丰台区航丰路8号院1号楼1层121
- 山东分部: 山东省济南市历城区唐冶绿地汇中心36号楼
- 联系在线工程师
- 网站首页 : https://www.yjsshier.com/