原子吸收光谱法：用于检测涂银层中的银含量。
X 射线荧光光谱法：可快速测定涂银层的成分和厚度。
扫描电子显微镜-能谱分析法：分析涂银层的微观结构和元素组成。
化学分析法：通过化学反应测定银的含量。
电化学分析法：检测涂银层的电化学性能。
全站搜索
中析研究所
- 北京总部: 北京市丰台区航丰路8号院1号楼1层121
- 山东分部: 山东省济南市历城区唐冶绿地汇中心36号楼
- 联系在线工程师
- 网站首页 : https://www.yjsshier.com/