光学显微镜法：通过显微镜观察铜线的截面，计算其占空系数。
X 射线衍射法：利用 X 射线衍射技术分析铜线的晶体结构，进而确定其占空系数。
扫描电子显微镜法：借助扫描电子显微镜对铜线进行高分辨率成像，以测量其占空系数。
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中析研究所
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