遮蔽式检测是一种常用的非破坏性检测方法，用于检测材料内部的缺陷和异物。它利用遮蔽法原理，将待检测的物体与探测器之间插入一个遮蔽体，通过测量遮蔽体与探测器之间的信号变化来判断物体内部的情况。
常见的遮蔽式检测方法包括：
1. 射线遮蔽法：利用射线（如X射线或γ射线）对物体进行照射，通过测量射线透射时遮蔽体与探测器之间的信号变化来检测物体内部的缺陷和异物。
2. 超声波遮蔽法：利用超声波对物体进行探测，通过测量超声波透射时遮蔽体与探测器之间的信号变化来检测物体内部的缺陷和异物。
3. 磁遮蔽法：利用磁场对物体进行探测，通过测量磁场透射时遮蔽体与探测器之间的信号变化来检测物体内部的缺陷和异物。
4. 电磁波遮蔽法：利用电磁波（如微波）对物体进行探测，通过测量电磁波透射时遮蔽体与探测器之间的信号变化来检测物体内部的缺陷和异物。
