杂质相检测是一种检测方法，可以用于确定材料中的不同杂质的种类、含量和分布情况，以确定材料的质量。
显微镜观察：使用显微镜观察材料表面和截面的形貌、颜色、纹理以及可见的杂质。
红外光谱分析（FTIR）：通过测量材料和其杂质在红外光谱范围内的吸收、反射、透射谱线来识别杂质的化学成分。
拉曼光谱分析：利用拉曼散射光谱分析来识别材料中的杂质，通过测量分子振动所引起的光散射来确定杂质的化学成分。
质谱分析（MS）：分析材料和杂质的分子结构和化学成分，通过质谱仪测量杂质的分子质量和相对丰度。
气相色谱-质谱联用（GC-MS）：将气相色谱和质谱结合起来分析杂质的种类和含量，通过气相色谱分离杂质，然后使用质谱确定杂质的化学成分。
液相色谱-质谱联用（LC-MS）：使用液相色谱将杂质分离，然后使用质谱确定杂质的化学成分和含量。
超高效液相色谱-质谱联用（UPLC-MS）：利用超高效液相色谱将杂质高效分离，并通过质谱分析来确定杂质的化学成分和含量。
原子吸收光谱分析（AAS）：测定杂质中特定元素的含量，适用于材料中含有金属元素的杂质。
电感耦合等离子体发射光谱分析（ICP-OES）：利用电感耦合等离子体激发杂质，并测量其发射光谱以确定杂质中特定元素的含量。
热重分析（TGA）：测量材料和杂质在不同温度下的质量变化，以确定杂质的含量。
锥板粘度法：通过测量材料和杂质在不同温度下的粘度来确定杂质的含量。
微量元素分析：使用专门仪器测量材料和杂质中微量元素的含量，以确定杂质的来源和含量。
热解固体光谱（TPS）：研究材料和杂质在高温下的热解过程和挥发物的生成情况，以确定杂质的种类和分布情况。
X射线衍射（XRD）：通过测量材料和杂质的X射线衍射图谱，识别杂质的晶体结构和化学组成。
电子显微镜（SEM）：使用电子束对材料和杂质进行表面形貌和组织结构的观察和分析。
扫描电子显微镜（SEM）/能谱分析（EDS）：结合SEM和能谱分析技术，观察和分析杂质的形貌和化学成分。
原位化学显微镜（ICM）：结合光学显微镜和化学分析技术，观察和分析杂质的形貌以及与材料之间的化学反应。
静电测量：通过测量材料和杂质的静电电势、电荷分布和电场强度，分析杂质的电性质。
磁性测量：通过测量材料和杂质的磁性，识别杂质的化学成分和晶体结构。
火焰光度法：通过测量杂质燃烧产生的光谱来确定杂质的化学成分。
流变性能测试：通过测量材料和杂质在剪切力下的变形行为，分析杂质对材料流变性能的影响。
热分析（DSC、TGA）：通过测量材料和杂质在加热过程中的温度、热流和质量变化，评估杂质的含量和热稳定性。
核磁共振（NMR）：利用核磁共振技术测量材料和杂质的核自旋状态和相对丰度，确定杂质的结构和化学成分。
电导率测量：通过测量材料和杂质的电导率，分析杂质的电性质和离子浓度。
拉伸强度测试：通过应用拉伸力测量材料和杂质的断裂强度，评估杂质对材料强度的影响。
硬度测试：通过测量材料和杂质的硬度，评估杂质对材料硬度的影响。
分子筛：利用分子筛材料将杂质从混合物中分离出来，然后通过分析杂质的化学成分和含量。
离子选择性电极：通过测量杂质和解析物在特定条件下的电势差，识别杂质的化学成分。
电化学测试：通过测量材料和杂质的电化学行为，分析杂质的电化学特性和易变性。
电子能谱（XPS）：观察并分析材料和杂质的表面成分和化学状态，识别杂质的化学成分。
等离子体质谱（ICP-MS）：通过测量杂质稀释后的离子溶液的离子电流和质谱，确定杂质的元素含量和化学成分。
气体
