光学显微镜检测法：通过显微镜观察物体的细节和结构。
电子显微镜检测法：能够提供更高分辨率的图像，用于检测微小的细节和结构。
X 射线检测法：适用于检测物体内部的结构和缺陷。
激光扫描检测法：可以快速获取物体的三维形状和表面细节。
超声波检测法：用于检测物体内部的缺陷和结构。
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中析研究所
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