X 射线衍射法：通过分析材料的晶体结构来确定其取向。
电子背散射衍射法：用于分析晶体材料的微观结构和取向。
磁力显微镜：可检测材料的磁性取向。
偏振光显微镜：适用于检测具有光学各向异性的材料。
超声波检测：用于检测材料中的缺陷和取向。
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中析研究所
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